GERWECK ANALYTICS – MEHR ALS NUR BESCHICHTEN!

 

»Mit unserem auf dem neusten Stand der Technik ausgestatteten physikalischen Labor, bieten wir einen einzigartigen Service. Gemeinsam mit unseren Kunden führen wir Materialanalysen durch, welche im Regelfall nur in Prüfinstituten ohne Beisein des Kunden angeboten werden.

Vor Ort bei GERWECK ANALYTICS, möchten wir unsere Kunden mit unserer Expertise und den notwenigen Analysegeräten bei ihren Fragestellungen und Problemen unterstützen. Dabei ist der persönliche Austausch zur Problemlösungsfindung essenziell.

 

Folgende Analysemöglichkeiten bieten wir ihnen an

Probenvorbereitung
csm Leica EM RAPID Milling system list 7e5c7be02bDas TXP ist ein spezielles Instrument, dass die Probenpräparation von Bauteilen für die spätere Untersuchungen übernimmt.
Es eignet sich dabei besonders für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren der Proben vor einer Analyse. Dank eines integrierten Stereomikroskop können selbst schwer erkennbare Ziele präzise lokalisiert und entsprechend vorbereitet werden, damit die Analyse in den gewünschten Bereichen sicher und problemlos durchgeführt werden kann. 
IonmillingMit Hilfe eines Ionenstrahls können Querschliffe bzw. Schnitte angefertigt werden, die keine mechanischen Artefakte aufweisen. So können auch Proben geschnitten werden, die bei mechanischer Präparation verschmieren würden, wie z.B. Zinn, oder aufgrund der Härte mechanisch schwer zu bearbeiten sind. Das besondere an der AirBlade 5000 ist die Möglichkeit, große Schnitte bis 8mm Länge durchführen zu können.

Analysengeräte
images news Analyse Leica Libs BilddateiDie Laserspektroskopie ermöglicht eine qualitative chemische Analyse der Probe. Durch Lasern des ausgewählten Bereichs wird ein charakteristisches Lichtspektrum ausgegeben, das Fingerabdrücke der im Material enthaltenen Elemente zeigt. Die Zusammensetzung der Mikrostruktur wird durch die Software, welche die Daten mit einer Datenbank abgleicht, ermittelt. Der Datenbankinhalt kann durch eigene Einträge erweitert werden. Auf Grund der einfachen Handhabung und der Robustheit des LIBS wurde dieses in den Mars Rovern „Curiosity“ und aktuell im „Perseverance“ eingesetzt.
Abplatzer silber REMIn einem Raster Elektronen Mikroskop erzeugen die Elektronen des Elektronenstrahls (Primärelektronen) auf der Probe Wechselwirkungen mit den Atomen. Diese können gemessen und ausgewertet werden.
SE Sekundärelektronen: SE bilden nur die oberen Atomlagen ab und geben Aufschluss über die Topographie der Probe.
BSE Rückstreuelektronen: Primärelektronen werden abhängig vom Atomgewicht der Probe zurückgestreut. Man erhält ein Materialkontrastbild, das Rückschlüsse auf die chemische Natur bzw. die Verteilung verschiedener Materialien oder Elemente der zu untersuchenden Probe, ermöglicht.
EDX Energiedispersive Röntgenspektroskopie: Auf ein energieärmeres Level fallende Elektronen geben die Energie als Röntgenstrahl ab. Die entstehende Strahlung ist typisch für ein Element. Man nutzt dies zur Elementanalyse
FischerMit diesem Gerät neuster Generation können die kleinsten Messflächen mit größter Präzision gemessen werden. Es ermöglicht die Schichtdickenmessung dünnster Schichten mit gleichzeitiger Analyse der Legierungszusammensetzung und ist damit Bestens ausgestattet für die komplizierte Messung kleinster Kontakte und Bauteile mit komplexen Mehrschichtsystemen. 
 


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