GERWECK ANALYTICS – PLUS QU'UN SIMPLE REVÊTEMENT !

»Avec notre laboratoire de physique à la pointe de la technologie, nous offrons un service unique. En collaboration avec nos clients, nous effectuons des analyses de matériaux qui, en règle générale, ne sont proposées que dans des instituts de contrôle, sans la présence du client.

Sur place, chez GERWECK ANALYTICS, nous souhaitons soutenir nos clients avec notre expertise et les appareils d'analyse nécessaires pour répondre à leurs questions et à leurs problèmes. Dans ce contexte, l'échange personnel est essentiel pour trouver des solutions aux problèmes.

NOUS VOUS PROPOSONS LES POSSIBILITÉS D'ANALYSE SUIVANTES

Préparation de l'échantillonLeica EM TXP

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Le TXP est un instrument spécial qui se charge de la préparation des échantillons de composants pour les analyses ultérieures.

Il est particulièrement adapté au fraisage, au sciage, au prépolissage et au polissage des échantillons avant une analyse. Grâce à un microscope stéréoscopique intégré, même les cibles difficiles à identifier peuvent être localisées avec précision et préparées en conséquence, afin que l'analyse puisse être effectuée en toute sécurité et sans problème dans les zones souhaitées.

Système de fraisage ionique Hitachi ArBlade 5000

À l'aide d'un faisceau d'ions, il est possible de réaliser des coupes transversales ou des sections qui ne présentent pas d'artefacts mécaniques. Cela permet de découper même des échantillons qui risqueraient de s’étaler lors de la préparation mécanique, comme l’étain, ou qui sont difficiles à traiter mécaniquement en raison de leur dureté. La particularité de l'ArBlade 5000 est la possibilité d'effectuer de grandes coupes jusqu'à 8 mm de longueur.

Appareils d'analyseLIBS: Laser Induced Breakdown Spectroscopy

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La spectroscopie laser permet une analyse chimique qualitative de l'échantillon. En exposant au laser la zone sélectionnée, on obtient un spectre lumineux caractéristique qui montre les empreintes digitales des éléments contenus dans le matériau. La composition de la microstructure est déterminée par le logiciel qui compare les données avec une base de données. Le contenu de la base de données peut être complété par des entrées personnelles. En raison de sa simplicité d'utilisation et de sa robustesse, le LIBS a été utilisé dans le rover martien « Curiosity » et actuellement dans « Perseverance ».
REM Raster Elektronen Mikroskop

Microscope électronique à balayage MEB

Dans un microscope électronique à balayage, les électrons du faisceau d'électrons (électrons primaires) produisent des interactions avec les atomes sur l'échantillon. Ceux-ci peuvent être mesurés et évalués.
SE électrons secondaires : les SE ne représentent que les couches atomiques supérieures et donnent des informations sur la topographie de l'échantillon.
Électrons rétrodiffusés BSE : les électrons primaires sont rétrodiffusés en fonction du poids atomique de l'échantillon. On obtient une image de contraste des matériaux qui permet de tirer des conclusions sur la nature chimique ou la répartition des différents matériaux ou éléments de l'échantillon à analyser.
Spectroscopie EDX à rayons X à dispersion d’énergie : les électrons tombant à un niveau d’énergie inférieur libèrent l’énergie sous forme de rayons X. Le rayonnement qui en résulte est typique d'un élément. On l'utilise pour l'analyse des éléments

FISCHERSCOPE XDV-μ LD

Cet appareil de dernière génération permet de mesurer les plus petites surfaces avec la plus grande précision. Il permet de mesurer l'épaisseur des couches les plus fines tout en analysant la composition de l'alliage. Il est donc parfaitement équipé pour les mesures compliquées des plus petits contacts et des composants avec des systèmes multicouches complexes.

Participez vous aussi à leur analyse !

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